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预售【外图台版】资料探勘 / Jiawei Han、Micheline Kamber、Jiam Pei 高立
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商品名称:预售【外图台版】资料探勘 / Jiawei Han、Micheline Kamber、Jiam Pei 高立
商品编号 :526220849725
店铺:
重量:0.000千克
上架时间:2021-07-13 17:29:10
ISBN编号 :9789864129805
作者 :Jiawei,Han、Micheline,Kamber、Jiam,Pei
出版社名称 :高立
语言 :繁体中文
进口书分类 :百科全书

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基本信息:书号:9789864129805书名:资料探勘作者:Jiawei Han、Micheline Kamber、Jiam Pei出版社:高立出版时间:2014/4/1内容简介:《Data Mining, 3E》主要是针对前两版进行了全面修订,并藉此突显及加强了资料探勘核心内容的广度及深度。在本书,先介绍资料和资料前处理、资料仓储与OLAP技术。接着,针对关联分析、分类、群集分析都拆分成两章。其中,前一章介绍基本概念和技术,后一章讨论进阶的概念和方法 (此部分内文置放于随书光盘中)。而离群值侦测则单独成为一章,以进行更深入的探讨。*后一章则是对资料探勘的研究与应用、发展趋势…等,进行了概述,试图把读者导引至更深入的主题。与前两版相比,第三版的架构更利于教学。总之,这是一本可以说是介于经典和现代资料探勘方法的优秀著作,它不仅仅是一本理想的教材,更是一本理想的参考书。作者简介:目录:第1章导论第2章了解你的资料第3章资料前处理第4章资料仓储与在线分析处理第5章频繁样式、关联性与相互关系探勘:基本概念与方法第6章进阶样式探勘 (置于随书光盘中)第7章分类:基本概念第8章分类:进阶方法 ( ...
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