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- 商品名称：CMOS集成电路闩锁效应 温德通 微电子 半导体与集成电路工程师参考自学书籍 模拟CMOS CMOS集成电路设计与制造书籍 ESD应用书籍
- 商品编号 ：615711287352
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- 重量：0.000千克
- 上架时间：2021-08-16 18:22:08
- ISBN编号 ：9787111645870
- 书名 ：CMOS集成电路闩锁效应,CMOS集成电路闩锁效应
- 作者 ：温德通
- 出版社名称 ：机械工业出版社
- 定价 ：99.00元
- 开本 ：16开
- 是否是套装 ：否
- 出版时间 ：2020-04
- 内文用纸材质 ：胶版纸
- 页数 ：240
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商品参数 CMOS集成电路闩锁效应 定价 99.00 出版社 机械工业出版社 版次 1 出版时间 2020年04月 开本 16开 作者 温德通 装帧 平装-胶订 页数 字数 ISBN编码 9787111645870 重量 内容介绍 本书通过具体案例和大量彩色图片，对CMOS集成电路设计与制造中存在的闩锁效应（Latch-up）问题进行了详细介绍与分析。在介绍了CMOS集成电路寄生效应的基础上，先后对闩锁效应的原理、触发方式、测试方法、定性分析、改善措施和设计规则进行了详细讲解，随后给出了工程实例分析和寄生器件的ESD应用，为读者提供了一套理论与工程实践相结合的闩锁效应测试和改善方法。 本书面向从事微电子、半导体与集成电路行业的朋友，旨在给业内 ...
